Cy3-Cy5-PEG修饰负载DiO和DiI的二氧化硅纳米粒的负载特性与应用
Cy3-Cy5-PEG修饰负载DiO和DiI的二氧化硅纳米粒
中文名:Cy3-Cy5-PEG修饰负载DiO和DiI的二氧化硅纳米粒
一、常规描绘Cy3-Cy5-PEG-SiO2@DiO/DiI是一个类以二硫化硅納米技术颗粒剂为各种载体,与此同时电动机扭矩两类荧光活性染料DiO和DiI,并顺利通过聚乙二醇(PEG)体现、外观共价依照Cy3和Cy5荧光团的结合納米技术材料。该納米技术平台变现多色荧光三维三维成像,要用于组织细胞内追踪定位、膜结合及納米技术中成药深入分析分析。PEG体现改善水溶解性和海洋生物相融性,Cy3/Cy5变现FRET(荧光共震能量场改变)深入分析分析及高迟钝三维三维成像。二、物理性普通机械概念与组成部分性状粒度约50–100 nm,球型分散性,外观光滑修饰语PEG和Cy3-Cy分之五子。包覆粉末外观带稍微负正电荷(ζ电位差约–8 mV),水溶解性良好的。DiO和DiI融入二钝化硅孔道或外观,可控制增强荧光导弹发射,Cy3-Cy5对荧光震动精力更换展示 高敏锐度的检测。包覆用料在怪物采集体系中增强,可长时光定位跟踪细胞质膜及内吞行为举动。利用Cy3-Cy5-PEG-SiO2@DiO/DiI常见于细胞核系成相、膜凝固探索、药物治疗递送关注及納米生物体探索。双荧光标记图片可改变FRET定性分析,提供数据了高灵巧度细胞核系内静态监控,为多职能荧光成相软件提供数据了道具。


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